진우인스텍 > 제품소개 > 비파괴 / 기타시험기 http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 테스트 버전 0.2 (2004-04-26) ko MK 7 with MS http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 비파괴(NDT) 재료특성시험 

* 고유 진동주파수 측정

* 탄성 계수 측정 E/G-Modulus (ASTM E1876), 푸아송비

* IET (Impulse Excitation Tech) 기술 

* Tap and Read 방식

* Measurement Station (자동 해머 및 측정 리딩)

]]> 진우인스텍 Thu, 14 Mar 2024 10:09:59 +0900 MK 7 with IL http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 비파괴(NDT) 재료특성시험 

* 고유 진동주파수 측정

* 탄성 계수 측정 E/G-Modulus (ASTM E1876), 푸아송비

* IET (Impulse Excitation Tech) 기술 

* Tap and Read 방식

* Measurement Station (자동 해머 및 측정 리딩)

]]> 진우인스텍 Thu, 14 Mar 2024 10:09:59 +0900 MK 7 http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 비파괴(NDT) 재료특성시험 

* 고유 진동주파수 측정

* 탄성 계수 측정 [E/G-Modulus (ASTM E1876), 푸아송비]

* IET (Impulse Excitation Tech) 기술 

* Tap and Read 방식

]]> 진우인스텍 Thu, 14 Mar 2024 10:09:59 +0900 MK7 with HT System http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 비파괴(NDT) 고온환경 탄성특성 연구 

* 고유 진동주파수 측정

* 탄성 계수 측정 E/G-Modulus 

  (ASTM E1876, C1259, E3397-23)

* IET (Impulse Excitation Tech) 기술

* 측정 온도 up to 1600℃

]]> 진우인스텍 Thu, 14 Mar 2024 10:09:59 +0900 MegaTrace http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * IC 칩 고장 분석

* 신뢰성 시험

* 위조 장치 분석

* 비파괴 전기 위조 시험

* 개방 / 단락 누설 시험 (OSL)

* Post decap 전기 검사

* 고장점 표정 (결함위치 식별)

* ESD (정전기) 시험

* 래치 업 (Latch-up) 시험

* 공급 전류 측정 

]]> 진우인스텍 Fri, 04 Sep 2020 09:55:18 +0900 MultiTrace http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * IC 칩 고장 분석

* 신뢰성 시험

* 위조 장치 분석

* 비파괴 전기 위조 시험

* 개방 / 단락 누설 시험 (OSL)

* Post decap 전기 검사

* 고장점 표정 (결함위치 식별)

* ESD (정전기) 시험

* 래치 업 (Latch-up) 시험

* 공급 전류 측정 

]]> 진우인스텍 Fri, 04 Sep 2020 09:52:13 +0900 MT Century http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * IC 칩 고장 분석

* 신뢰성 시험

* 위조 장치 분석

* 비파괴 전기 위조 시험

* 개방 / 단락 누설 시험 (OSL)

* Post decap 전기 검사

* 고장점 표정 (결함위치 식별)

* ESD (정전기) 시험

* 래치 업 (Latch-up) 시험

* 공급 전류 측정


]]> 진우인스텍 Fri, 04 Sep 2020 09:45:55 +0900 Equotip 550 Leeb http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 글로벌 산업 표준

* 넓은 측정 범위

* 충격 장치 및 부속품

* 광범위한 경도 단위 적용 범위

* 표준 규격

  ASTM A956, A370, E140

  ISO EN 16859, DIN 50156

  GB/T 17394, JB/T 9378 







]]> 진우인스텍 Thu, 14 Jan 2021 15:35:49 +0900 Equotip 550 Rockwell http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 세계 수준의 휴대용 정적 경도 검사

* 얇은 부품 전용

* 다양한 샘플 형상에 적합

* 광범위한 경도 단위 적용 범위

* 표준 규격

   DIN 50157, ASTM E140

   ISO EN 18265






]]> 진우인스텍 Thu, 14 Jan 2021 15:35:49 +0900 Equotip 550 UCI http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 가장 유연하고 간편한 초음파 경도기

* 조정 가능한 테스트 부하

* 신속하고 믿을 수 있는 측정

* 고유한 소프트웨어 기능

* 광범위한 경도 단위 적용 범위

* 표준 규격

   ASTMA1038, DIN50159

   ASTME140, ISO18265




]]> 진우인스텍 Thu, 14 Jan 2021 15:35:49 +0900 Equotip Live http://jin-woo.com/bbs/board.php?bo_table=product07 * 글로벌 산업 표준

* 넓은 측정 범위

* 충격 장치 및 부속품

* 광범위한 경도 단위 적용 범위

* 표준 규격

  ASTM A956, A370, E140

  ISO EN 16859, DIN 50156

  GB/T 17394, JB/T 9378 







]]> 진우인스텍 Thu, 14 Jan 2021 15:35:49 +0900