본문
반도체 Curve Tracer
MT CenturyIC 분석기 (IC Curve tracer)
* IC 칩 고장 분석
* 신뢰성 시험
* 위조 장치 분석
* 비파괴 전기 위조 시험
* 개방 / 단락 누설 시험 (OSL)
* Post decap 전기 검사
* 고장점 표정 (결함위치 식별)
* ESD (정전기) 시험
* 래치 업 (Latch-up) 시험
* 공급 전류 측정
제품소개
PRODUCT
 > 제품소개 > 비파괴 / 기타시험기 > 반도체 Curve Tracer반도체 Curve Tracer
MT Century* IC 칩 고장 분석
* 신뢰성 시험
* 위조 장치 분석
* 비파괴 전기 위조 시험
* 개방 / 단락 누설 시험 (OSL)
* Post decap 전기 검사
* 고장점 표정 (결함위치 식별)
* ESD (정전기) 시험
* 래치 업 (Latch-up) 시험
* 공급 전류 측정
        
	        	진우인스텍  |  주소 : 충청북도 증평군 증평읍 진지내1길 28, 102호 (우.27933)
                Tel. 043-836-2177  |  Fax. 043-836-2176  |  E-mail. sales@jin-woo.com